PORTABLA MODELLER |
PROGRAMVAROR >
|

Motorenheten kan lossas ur displayenheten och användas separat för mätning i t ex trånga utrymmen
|
YTJÄMNHETSMÄTARE
SURFTEST SJ-210
Portabel ytjämnhetsmätare för enkel och snabb utvärdering av ytstruktur direkt i produktionen. 2,4" bakgrundsbelyst 4-färgs LCD-display med bl a svenskt menyspråk (valbart). Mycket lättstyrt menysystem. Toleransbedömning med färgindikering. Visning av BAC- och ADC-kurvor. Plats för micro-SD minneskort för lagring av stora mängder mätdata, mätförutsättningar och grafik. USB-anslutning för kommunikation med Mitutoyos programvaror. Uppfyller ytstruktursdelen inom GPS-normen.
Noggrannhetsklass: Klass 1 enligt DIN 4772
Mätområde X-axel: 17,5 mm.
Parametrar: Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rp, Rv, R3z, Rsk, Rku, Rc, RPc, Rsm, Rz1max, S, HSC, RzJIS, Rppi, RΔa, RΔq, Rlr, Rmr, Rmr(c), Rδc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, Rpm, tp, Htp, R, Rx, AR,
Läs mer
|
|
|
YTJÄMNHETSMÄTARE
SURFTEST SJ-301
För portabelt eller stationärt bruk. Med dammskyddade knappar, pekskärm och inbyggd skrivare.
Pekskärm med pekstift för inställning av olika mätförutsättningar underlättar arbetet och gör användandet av utrustningen betydligt snabbare.
Mätdata kan sparas för att vid ett senare tillfälle bearbetas och/eller skrivas ut. Med ett tillkopplat RAM-kort kan minst 20 olika mätförutsättningar, mätvärden och statistik sparas. ”Surftest SJ-301” har även en funktion för statistisk bearbetning av mätdata. Uppfyller ytstruktursdelen inom GPS-normen.
* Nu med Rmax enl VDI samt Rz1max enl SS-EN ISO 4287.
Noggrannhetsklass: Klass 1 enligt DIN 4772
Mätområde X-axel: 12,5 mm
Parametrar: Ra, Ry, Rz, Rt, Rp, Rq, Rv, Sm, S, Pc, R3z, mr, Rmax, Rz1max, Rpk, Rvk, dc, Rk, Mr 1, Mr 2, Lo, Ppi, R, Ar, Rx, A1 och A2
Läs mer
|

Fribärande pickup
|
YTJÄMNHETSMÄTARE
SURFTEST SJ-400
Fribärande mätning eller med släpsko. Utrustningen kan användas portabel eller monterad i mätstativ. Med fribärande pickup ges möjlighet att mäta på runda ytor samt även mycket fina steg, rakhet och vågighet. Displayens linjalfunktion underlättar utvärderingen av ytans struktur. Pekskärmsstyrning och inbyggd termoskrivare. Uppfyller ytstruktursdelen inom GPS-normen.
* Nu med Rmax enl VDI samt Rz1max enl SS-EN ISO 4287.
Modell SJ-401: Mätområde X-axel 25 mm
Modell SJ-402: Mätområde X-axel 50 mm
Noggrannhetsklass: Klass 1 enligt DIN 4772
Parametrar: Ra, Ry, Rz, Rq, Pc, R3z, mr, Rt, Rmax, Rz1max, Rp, Rv, Sm, S, dc, Rk, Rpk, rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Lo, Ppi, R, AR, Rx, Da, Dq, Ku, HSC, mrd, Sk, W, AW, Wt och Wte
Läs mer
|
|
|
YTJÄMNHETSMÄTARE
SURFTEST SJ-400
(monterad i stativ)
Höjdinställning 200 mm.
På bilden utrustad med DAT-bord för nivellering under fribärande mätning.
|
Fribärande pickup
|
YTJÄMNHETSMÄTARE
SURFTEST SJ-500
Ett mycket prisvärt högprestandainstrument. Pekskärmsstyrning och inbyggd termoskrivare. Mätning av ytjämnhet, vågighet, primärprofil samt utvärdering av geometriska egenskaper såsom Area, Cirkel, Vinkel, Koordinatdifferens, Steg och Lutning. Rakhetsavvikelse 0,2 µm/50 mm. Positionering av mätspetsen med joystick. 7,5" TFT färgpekskärm med svenskt menyspråk.
Uppfyller
ytstruktursdelen inom GPS-normen.
Med Rmax enl VDI samt Rz1max enl SS-EN ISO 4287.
Noggrannhetsklass: Klass 1 enligt DIN 4772
Mätområde X-axel: 50 mm
Parametrar: Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rz1max, Rp, Rv, R3z, Sm, S, Pc, mr (c), δc, mr, tp, Htp, Lo, lr, Ppi, HSC, Δa, Δq, Ku, Sk, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, λa, λq, R, AR, Rx, W, AW, Wx, Wte
Läs mer
|
STATIONÄRA MODELLER |
|
SV-2100S4 med processor

SV-2100M4 med PC
|
YTJÄMNHETSMÄTARE
SURFTEST SV-2100
För kvalitetskontrollrum och laboratorier. Ett ekonomiskt högprestandainstrument för referensmätningar. Mäter både ytjämnhet, vågighet och geometriska egenskaper. Styrning från PC (modell M4) eller separat processor. Keramiska styrningar i pelaren. Rakhetsavvikelse 0,15 µm/100 mm.
Uppfyller alla aktuella industristandarder såsom DIN, ISO, ANSI och JIS.
Noggrannhetsklass: Klass 1 enligt DIN 4772
Mätområde X-axel: 100 mm
Parametrar (med processor): Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rz1max, Rp, Rv, R3z, Sm, S,
Pc, mr (c), δc, mr, tp, Htp, Lo, lr, Ppi, HSC, Δa, Δq, Ku, Sk, Rpk,
Rvk, Rk, Mr1, Mr2, A1, A2, Vo, λa, λq, R, AR, Rx, W, AW, Wx, Wte
Parametrar (i PC SV-2100M4): Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz,Pt, Pc, PSm, PΔq, Pmr (c), Pmr, Pδc, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz, Rt, Rc, RSm, RΔq, Rmr (c), Rmr, Rδc, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, WΔq, Wmr (c), Wmr, Wδc, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN, RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, lr, Δa, λa, λq, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
Läs mer
|
|
|
YTJÄMNHETSMÄTARE
SURFTEST SV-3100
Mätning av ytjämnhet med högsta noggrannhet. Utförliga analysparametrar och ett stort antal funktioner för fina konturer såväl som konventionell ytjämnhetsmätning. Utrustad med högprecisions glasskalor med upplösning 0,05 µm i X-led och 1 µm i Y-led. Det medger den höga noggrannhet i X-led som krävs för att utvärdera parametrarna S och Sm. Styrning via en separat kontrollbox för positionering, mätning, återgång m m samt motorisering i Z-axeln.
Noggrannhetsklass: Klass 1 enligt DIN 4772
Mätområde X-axel: 100 alt. 200 mm
Parametrar: Ra, Rq, Ry, Rz, R3z, Rt, Rp, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, S, Sm, Pc, mr, A1, A2, Rv, R, Rx, W, Wx, Wte, mrd, HSC, AW, AR, Vo, Da, Dq, Ku, dc, Lo, Sk, Rti, R3zi, R3y, Rc, Rpmax, Rpi, Rvmax, Platåkvot, la, lq, Lr, SR, SAR, NR, NCRX, CPM, SW, SAW, NW, Vo
Läs mer
|
CNC-STYRD MODELL |
|
|
|
YTJÄMNHETSMÄTARE
SURFTEST SV-3000CNC
CNC-styrd referensmätning av ytjämnhet och vågighet.
För integrering direkt i produktionen vid t ex löpande band. Eller som tidsbesparande utrustning i mätrum och laboratorier. Rörelse i upp till fem axlar med hjälp av olika tillsatsbord.
Rakhet: (0,05+1,5 L/1000) µm
Transporthastighet: 200 mm/s
Noggrannhetsklass: Klass 1 enligt DIN 4772
Mätområde X-axel: 200 mm
|
KOMBINATIONSMODELLER FÖR YTA OCH KONTUR |
|
|
|
FORMTRACER SV-C 3100/4100
Platsbesparande kombinationsutrustning bestående av Ytjämnhetsmätare SV-3000 och Profilmätmaskin CV-3000/4000 i ett.
• Utvärdering i programvaran DUALTRACEPAK.
Mätområde/Upplösning
X: 100 mm/0,05 µm alt. 200 mm/0,05 µm
Z:
Profil: 50 mm/0,2 µm alt. 50 mm/0,05 µm
Ytjämnhet: 0,8 mm/0,0001 µm
Noggrannhet
X: ±(1+2L/100) µm alt. ±(0,8+2L/100) µm
Z: ±(3+l2Hl/25) µm alt. ±(0,8+l0,5Hl/25) µm
Rakhet
X: 0,8 µm/100 mm alt. 2 µm/200 mm
Läs mer
|
|
|
FORMTRACER CS-3100
Platsbesparande kombinationsutrustning bestående av Ytjämnhetsmätare och Profilmätmaskin i ett.
• Utvärdering i programvaran FORMTRACEPAK.
Mätområde/Upplösning
X: 100 mm/0,05 µm
Z: 5 mm/0,08 µm, 0,5 mm/0,008 µm, 0,05 mm/0,0008 µm
Noggrannhet
X: ±(1+2L/100) µm
Z: ±3 µm/5 mm
Rakhet
X: 0,2 µm/100 mm
Läs mer
|
|
|
FORMTRACER CS-5000
Platsbesparande kombinationsutrustning bestående av Ytjämnhetsmätare och Profilmätmaskin i ett.
• Utvärdering i programvaran FORMTRACEPAK.
Mätområde/Upplösning
X: 200 mm/0,00625 µm
Z: 6 mm/0,002 µm
Noggrannhet
X: (0,2+0,1L/1000) µm
Rakhet
X: (0,05+0,0015L) µm
Läs mer
|
PROGRAMVAROR |
Till sidans början > |
|
|
SURFPAK-SJ
• SURFPAK-SJ för de portabla ytjämnhetsmätarna SURFTEST SJ.
Erbjuder ett stort antal funktioner för utförlig analys i PC.
• Funktioner som stödjer automatisk mätning
• Innehåller ett stort antal utvärderingsparametrar som uppfyller alla internationella standarder.
• Ger operatören möjlighet att utföra komplicerade mätningar snabbt och effektivt med musklick.
Läs mer
|
|
|
FORMTRACEPAK
Programvara för Surftest-SV och Formtracer.
Analys och utvärdering av både konturer och ytstruktur på samma skärmbild.
|
| |
Till sidans början > |